大家好，小丽今天来为大家解答表面电阻率测试方法以下问题，表面电阻率和体积电阻率的区别很多人还不知道，现在让我们一起来看看吧！

1、四探针测试技术，简称为四探针法，是测量半导体电阻率最常用的一种方法。

2、表面电阻率定义为材料表面的电阻，并表示为欧姆（通常称为方块电阻）。

3、陶瓷表面电阻测量方法：在试样的某一表面上两电极间所加电压与经过一定时间后流过两电极间的电流之商；访伸展流主要为流过试样表层的电流,也包括一部分流过试样体积的电流成分.在两电极间可能形成的极化忽略不计.表面电阻是。

4、1.国外常用参考电学性能检测标准及参数，如下：表面电阻/表面电阻率ASTM D257 IEC 60093 体积电阻/体积电阻率ASTM D257 IEC 60093 击穿电压ASTM D149 IEC 60243 介电强度ASTM D149 IEC 60243 静电性能AST。

本文到此讲解完毕了，希望对大家有帮助。